2017联动科技产品推广暨模拟IC测试技术研讨会

西安市集成电路产业发展中心携手IC测试设备领先的供应商联动科技，诚邀您参加 “ 2017联动科技产品推广暨模拟IC测试技术研讨会” 。通过本次研讨会，您将了解到：

1.  Measurement by Trigger Technic   触发测量方法

2.  Multi Timing Measure Technic 并行多点采样时间测量技术

3.  Vector Table on Analog   模拟器件测量的矢量编辑

4.  Auto Spike Detector 尖峰自动侦测技术。

会议为免费参加，并有纪念品和幸运抽奖活动，座位有限，报名从速！报名请将姓名和联系方式发送到以下联系方式：

西安： 刘颖  88328230-8019  liuying@xaic.com.cn

会议日程：

*仅供Topic参考，具体以现场Agenda为准

               来源：西安集成电路产业发展中心