2018爱德万测试技术研讨会圆满召开

2018年12月11日，国家集成电路设计西安产业化基地携手爱德万测试（中国）有限公司，于西安志诚丽柏大酒店共同举办2018爱德万测试技术研讨会。本次研讨会邀请的单位有771所、Intel、西安紫光国芯、618所、20所、631所、西安飞芯电子等20余家企业70余人参加。

此次会议，首先由爱德万高级总监夏克金博士，向各参会嘉宾介绍了芯片测试发展趋势、产业分析及公司主营业务和各类ATE测试机台的适用范围。会议期间，爱德万工程师分享了最新的物联网5G射频测试技术的解决方案、专业的SLT测试方案、物联网MCU芯片的一站式测试方案、功率及汽车电子器件测试方案以及人工智能AI芯片的测试方案。并且隆重介绍爱德万测试新一代的Momery类芯片的T5503HS、T5503HS2测试机台和低成本便携式EVA100测试平台。

本次研讨会涉及各个领域，爱德万测试（中国）有限公司分享最前沿的测试技术方向，为相关技术人员提供参考并耐心解答参会代表的提问和实际项目中遇到的技术难题。

为推动西安集成电路测试产业整体发展，降低ATE芯片测试成本，提高专业测试人才储备。国家集成电路设计西安产业化基地与爱德万测试（中国）有限公司推出TE-Clud云测试服务，目前西安本地已有6家用户使用。

国家集成电路设计西安产业化基地长期致力于西安本地测试技术发展，每年举办各类型的技术型研讨会其学术专业性及形式新颖性为大家带来了不同于以往的体验与视觉盛宴，期待未来会有新的跨越与提升。

撰稿：技术服务部